應用案例
行業概述
機器視覺在半導體行業的應用已非常普遍,應用范圍也越來越廣,涉及到半導體外觀缺陷、尺寸大小、數量、平整度、間隔、定位、校準、焊點質量、彎曲度等等的檢測和測量。
檢測內容包括:
電子元器件外觀檢測、SMD產品的外觀檢測、硅片外觀檢測、IC芯片、電子鏈接器平整度檢測等。
打光難點:
產品形式多樣、檢測精度高、由于材料與工藝等原因產品本身特征不太明顯,因此對打光的要求比較高。
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[2016-08-24]晶體板內晶格有無檢測
檢測內容:晶體板內晶格有無檢測使用光源:點光源分析:用點光源和顯微鏡頭拍攝顯微晶元圖像特征呈黑,背景...[查看詳情]
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[2016-07-28]LED針腳間距測量
檢測目的:LED針腳間距測量檢測內容:LED針腳間距測量參考光源:HFL-50-50-W分析: 用面光源背面照射,將LE...[查看詳情]
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[2016-07-28]塑膠鐳射字符成像實例
檢測內容:塑膠鐳射字符成像實例使用光源:環形光源分析:使用環形光照射,字符與背景對比不明顯。使用光源...[查看詳情]
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[2016-07-29]太陽能電池檢測
檢測內容:太陽能電池檢測 使用光源:條形光源分析:[查看詳情]
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[2016-08-01]硅片臟污檢測
檢測內容:硅片臟污檢測 使用光源:四面可調光源分析:[查看詳情]
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